一．高低溫測(cè)試介紹：

電子電器產(chǎn)品的高低溫測(cè)試分為高低溫存儲(chǔ)測(cè)試和高低溫運(yùn)行測(cè)試。高低溫存儲(chǔ)是產(chǎn)品不上電，在非工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。高低溫運(yùn)行是給產(chǎn)品供電，在產(chǎn)品工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。

二．電池高低溫測(cè)試方法案例：

測(cè)試方法;測(cè)試一;高溫測(cè)試?

1.將電池放入具有室溫的烤爐內(nèi);?

2.烤爐內(nèi)溫度逐漸升溫至所設(shè)置的溫度，當(dāng)溫度調(diào)到設(shè)置的參數(shù)時(shí)，持續(xù)測(cè)試 48H;

3.樣品斷開(kāi)電源，箱內(nèi)溫度降低至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下;

4.恢復(fù)兩小時(shí);?

5.對(duì)試驗(yàn)產(chǎn)品進(jìn)行全方面的檢測(cè);

測(cè)試二∶低溫測(cè)試?

1. 樣品應(yīng)在不包裝、不同點(diǎn)和正常工作位置的狀態(tài)下放入具有室溫的試驗(yàn)箱內(nèi);

2. 箱內(nèi)溫度逐漸降低至所設(shè)置的溫度，當(dāng)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后擱置2 小時(shí)，然后接通電?源持續(xù)工作 48小時(shí);?

3. 樣品斷開(kāi)電源，箱內(nèi)溫度降低至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下;

4. 箱內(nèi)溫度上升至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下;

5. 恢復(fù)兩小時(shí);?

6. 對(duì)試驗(yàn)產(chǎn)品進(jìn)行全方面的檢測(cè);

三．電池高低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫；

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫；

GB T 28046.4-2011 道路車(chē)輛 電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn) 第4部分：氣候負(fù)荷；